Der große Aufriss
Nichts bleibt verborgen
Über die Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS steht für: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) lassen sich die chemischen Komponenten einer Oberfläche zuverlässig nachweisen und somit Informationen über die molekulare Zusammensetzung auch dünnster Schichten generieren.
Im Auftrag der Business Unit Packaging Steel untersucht der Forschungs- und Entwicklungsbereich in Duisburg verzinntes Stahlfeinstblech, sogenanntes Weißblech für Verpackungszwecke. Das Material hierfür muss lebensmittelecht und korrosionsbeständig sein, um Füllgüter darin für lange Zeit lagern zu können. Wichtiger noch: Die neue Beschichtung basiert auf einem umweltfreundlicheren chromfreien Prozess.
Oberflächen geben ihr Geheimnis preis
thyssenkrupp Steel setzt das Verfahren außerdem in der Produktneuentwicklung ein. Die Analysetechnik geht zudem möglichen Problemen bei Produktion, Lagerung oder Transport von Flachstahlprodukten auf den Grund. Für die Stahlindustrie ist der Einsatz eines ToF-SIMS-Spektrometers übrigens höchst ungewöhnlich. In der Regel werden diese Geräte in der Halbleiterindustrie eingesetzt, aber auch das Bundeskriminalamt in Wiesbaden ist bei der Suche nach Spuren auf die Technik aufmerksam geworden.
